А. Г. Хаткевич*, Н. С. Казак

Институт физики им. Б. И. Степанова НАН Беларуси,

220072, Минск, просп. Ф. Скорины, 68

Развит фотоупругий метод определения компонент псевдотензоров акустической гиротропии по обусловленным ею изменениям дифракционных кривых на эластограммах дифракции света на ультразвуковых волнах, распространяющихся вдоль акустических осей в плоскостях симметрии упругих свойств. Установлено, что в кристаллах планальных классов m, 3m, 2mm, 4mm и 6mm, а также инверсионных  и m2 акустическая гиротропия не проявляется в параметрах волн, распространяющихся в плоскостях симметрии. Показано, что кристаллы класса 222 и шести других, более симметричных классов могут иметь достаточное число акустических осей в координатных плоскостях, чтобы определить все компоненты тензоров гиротропии фотоупругим методом. Отмечено, что определение компонент псевдотензора собственной гиротропии в кристалле класса 6/m или 4/m позволяет проверить корректность условий симметрии, благодаря которым в общем случае в этом псевдотензоре остается 15 различных компонент.