Предложен метод повышения точности измерений спектральных и интегральных характеристик фотоприемных устройств (в частности, фотодиодов с преобразователями ток—напряжение) в диапазоне мощностей, для которого параметр нелинейности, определяемый методом двойной апертуры, не зависит от мощности облучения. Показано, что в этом случае можно получить аналитические выражения как для градуировочной характеристики указанных устройств, так и для поправочных коэффициентов, минимизирующих систематическую погрешность измерений коэффициентов пропускания и отражения образцов, а также связать в аналитической форме интегральный и спектральный параметры нелинейности.

Ключевые слова: двухапертурный метод, параметр нелинейности, приемно-регистрирующая система, фотодиод, градуировочная характеристика, спектральные коэффициенты пропускания и отражения.