ЖУРНАЛ ПРИКЛАДНОЙ СПЕКТРОСКОПИИ
ПРЕОБРАЗОВАНИЕ РАДИАЦИОННЫХ ДЕФЕКТОВ, ОТВЕТСТВЕННЫХ ЗА F-ПОЛОСУ ПОГЛОЩЕНИЯ В КРИСТАЛЛАХ NaF, ПРИ СВЕТОВОМ ОБЛУЧЕНИИ И ОТЖИГЕ

С. А. Михнов

УДК 543.42:535.33/34: 539.2
Институт молекулярной и атомной физики НАН Беларуси,

220072, Минск, просп. Ф. Скорины, 70

(Поступила 19 марта 1998)

Обнаружено, что наблюдаемая в g -облученных кристаллах NaF F-полоса оптического поглощения состоит из трех перекрывающихся полос. Полоса при 345 нм шириной 40 нм не зависит от примесного состава кристаллов, исчезает при подсветке излучением в области 345 нм и вновь возникает после отжига при 460±15 К в течение 15 мин. С этой полосой коррелирует по интенсивности сверхтонкая структура спектра ЭПР. Ширина (65—110 нм) и спектральное положение (355—375 нм) второй полосы зависят от примесного состава криcталла. Полоса шириной 90—110 нм при 320—325 нм исчезает при отжиге и возникает после подсветки одновременно с исчезновением сигнала ЭПР. Установлено, что за полосу при 345 нм ответственны квазимолекулы на основе атомов фтора, при 355—375 нм — F-центры с различным примесным составом вблизи галоидной вакансии, при 320—325 нм — F-центры в отрицательно заряженном состоянии (F').

Ключевые слова: радиационный дефект, сверхтонкая структура спектра ЭПР, оптическое поглощение, фотодихроизм.