|
|
ЛЮМИНЕСЦЕНТНЫЙ МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ EXAFS-СПЕКТРОВ ДЕФЕКТОВ СТРУКТУРЫ ЩЕЛОЧНО-ГАЛОИДНЫХ КРИСТАЛЛОВ**
В. И. Кочубей*, Ю. Г. Конюхова, К. Е. Гюнсбург
УДК 535.34:539.26
НИИ механики и физики при Саратовском государственном университете им. Н. Г. Чернышевского, Россия, (Поступила 20 декабря 2001)
410026, Саратов, ул. Большая Казачья, 112-А; e-mail: kochubey@optics.sgu.ru
Показано, что с помощью рентгеноспектральных методов — EXAFS- и XEOL-спектроскопии — возможно как определение структуры собственных или примесных центров люминесценции в щелочно-галоидных кристаллах, так и исследование динамики их изменения под действием ионизирующего излучения. Методы отличаются высокой чувствительностью. На примере кристаллов KBr, NaCl:Ni и NaCl:Ni,Cu продемонстрированы возможности методов. Получены новые данные о структурах различных исследованных центров люминесценции и динамике их изменения.
Ключевые слова: EXAFS-спектроскопия, центр люминесценции, кристалл, структура кластера.
**Доложено на Международной конференции по люминесценции, 17—19 октября 2001 г., Москва, Россия.